電子束實(shí)驗(yàn)儀

發(fā)布時(shí)間： 2019-06-27　　點(diǎn)擊次數(shù)： 598次

電子束實(shí)驗(yàn)儀型號(hào)：EB-Ⅲ
用途和目的
* 研究電子在電場(chǎng)和磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)變化規(guī)律；
* 了解示波管的構(gòu)造和各電的作用；
* 掌握電子束在橫向電場(chǎng)作用下電偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律；
* 掌握電子束在縱向不均勻電場(chǎng)作用下的電聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律；
* 掌握電子束在橫向磁場(chǎng)作用下的磁偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)規(guī)律；
* 掌握電子束在縱向磁場(chǎng)作用下的磁聚焦運(yùn)動(dòng)規(guī)律，地測(cè)定電子荷質(zhì)比。
技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)
* 示波管（8SJ31J）
* 聚焦電壓：280～380V
* 加速電壓：-850～-1300V
* 偏轉(zhuǎn)電壓：-80～+80V
* Y軸電偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.4mm/V
* Y軸磁偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.3mm/mA
* 磁聚焦恒流源大輸出電流：2.（Ⅱ型自備）
* 電子荷質(zhì)比測(cè)量誤差：≤5%

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